P-35
集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)によるヒザラガイ歯舌歯の加工観察
市村 康治（理学系研究科・理学部）
要旨
集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)を用いてヒザラガイ（Liolophura japonica）歯舌歯の非包埋試料について加工観察を行った。前処理の工夫と適切な加工により，大側歯の前方と側方からそれぞれ1日の加工で狙った位置の~220×~280, ~280× ~150 μmの断面のSEM観察を行うことができた。本手法は類似の試料にも応用が期待される。
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