P-36 電子プローブマイクロアナライザ及び集束イオンビーム走査型電子顕微鏡の共用利用に関する近況と課題

P-36

電子プローブマイクロアナライザ及び集束イオンビーム走査型電子顕微鏡の共用利用に関する近況と課題

市村 康治(理学系研究科・理学部)

要旨
電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)及び集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)について全国の大学・公的機関における共用利用の状況を調査したところ,一時間当たりの利用料は同条件においても大きなばらつきがみられ,利用料の適切な設定と体制について考察した。地球惑星科学専攻の共用のEPMAとFIB-SEMについては利用者拡大及び支払いに関するルール作りの整備を課題とした。

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